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2011-05-13 11:02来源:仪表网关键词:沈阳仪表科研院收藏点赞
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“传感器测试关键共性技术研究”项目突破了高性能传感器“试验装置高效高压多波形控制”、“批量检测系统弱信号检测”、“可靠性强化试验”等关键技术,在硅电容传感器批量测试系统的“夹具设计”和“补偿方法”、传感器高效高压试验装置的“复合波形控制”等方面具有创新性。成果主要性能指标和关键技术达到国际先进水平,对推动行业技术进步,增强产品市场竞争力,具有重要的支撑作用。
“光密度连续变化滤光器件”项目开展了中性渐变薄膜的设计与制造工艺研究,研制出线性度和中性度良好的光密度连续变化滤光器件,线性度、中性度均达到±5%。解决了光密度线性渐变薄膜设计、中性薄膜镀制、掩膜机构设计及掩膜机构运动控制等关键技术难题,在线性迭代拟合调速和分段调速等方面具有创新性。研制开发的滤光器件,填补了国内空白,并已实现批量生产,主要性能指标达到国际先进水平。
“SOI压力传感器制造工艺研究”项目开展了SOI压力传感器制造工艺的研究,建起具有自主技术和知识产权支撑的高温SOI压力传感器制造技术平台,实现耐高温SOI压力传感器批产工艺的稳定性。采用表面掺杂浓度控制方法解决了低漂移技术难题,使敏感器件的稳定性达到0.005%F.S./8h;采用多层薄膜低应力匹配技术,实现敏感芯片重复稳定生产;采用Cr–Ni–Au复合耐高温电极制备技术,实现了敏感芯片在300℃下稳定工作。项目成果填补了国内空白,主要性能指标达到国际先进水平。鉴定委员会一致同意三个项目通过成果鉴定。
专家组对沈阳仪表科学研究院项目组织实施管理给予了较高评价,对项目完成的质量给予了充分地肯定,并建议在现有基础上不断地发挥自身优势,进一步推广应用并扩展应用领域。
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